Festkörperphysik ed

Table of Contents

Kristalle ed

Definitionen ed

Gitter
Punktmenge, die unter Translationen in sich selbst übergeht. Wird von 3 Basisvektoren \( \vec a_{1,2,3} \) aufgespannt. Alle Punkte sind ganzzahlige Vielfache ( \( \vec v = n_1 \vec a_1 + n_2 \vec a_2 + n_3 \vec a_3 \ \ , n_{1,2,3} \in \mathfrak{Z} \) ) Diese Vektoren spannen die Einheitszelle auf.

Basis
Alle Atome in einer Einheitszelle

Kristall
Gitter + Basis

reziprokes Gitter (k-Raum)
Die reziproke Gitter-Basis erfüllt \( \vec b_i \cdot \vec a_j = 2 \pi \delta_{ij} \) , das reziproke Gitter wird von diesen Vektoren aufgespannt

Wigner-Seitz-Zelle
eine primitive Einheitszelle des Kristalles, die durch Flächen senkrecht zu Gitterpunkt-Verbindungen durch deren Mitte begrenzt wird

1. Brillouin-Zone
Die Wigner-Seitz im K-Raum

Millersche Indizes
...geben Ebenen an...

Unter Symmetrien gibt es nur 14 eigenständige Punktgitter, die Bravaisgitter

Die dichtesten Gitter sind hcp und fcc (74%). NaCl ist fcc, wobei die Basis aus je einem Na und Cl-Atom besteht. Diamant ist auch fcc, aber mit 8 Atomen pro Zelle.

Bindungen ed

Edelgase ed

Durch van-der-Waals-Bindung: \( U ( r ) = - \frac A {r^6} + \frac B {r^12} \) . Die anziehende Dipol-Dipol-WW entsteht durch Kopplung von QM-harm.Osz. Der abstoßende Anteil ist die Austausch-WW durch Pauli (Überlappintegrale), wird auch gerne als Exp-Funktion geschrieben.

Ionen-Bindung ed

$  U = \cdots \frac 1 { 4 \pi \epsilon_0 } \frac{ q^2 }{ r } \sum_{ i
e j } \frac{ \pm 1 }{ p_{ij} } =: \cdots \frac 1 { 4 \pi \epsilon_0 } \frac{ q^2 }{ r } \alpha \( , wobei \) \alpha $ die Madelung-Konstante der Struktur ist.

Kovalente Bindung ed

Elektronenpaar zwischen Atomen, Überlapp, Pauli... stark und stark gerichtet

Metall ed

Elektronen delokalisiert, kin. Energie erniedrigt

Beugung ed

Experimente ed

Phonon-Dispersionsrelation ed

inelastische Neutronenstreuung (n, da es nur Atomkern sieht), Wellenvektor-Differenz, Energiedifferenz messen, gibt k und omega der Phononen.

Phononlebensdauer aus Winkelbreite...

Dünnfilmherstellung ed

Diffraktometrie ed